I-MAT

Microscope à Force Atomique

L’AFM permet d’obtenir la topographie d’une surface comprise entre 100x100 μm et 100x100 nm. Les échantillons peuvent être observés à l’ambiant mais aussi en présence d’un liquide. Différents modes permettent aussi d’obtenir des informations sur les propriétés mécaniques et électriques de ces surfaces.

AFM - Bruker Dimension Icon  piloté par un Nanoscope V 

- Modes disponibles :

  • Topographie : Tapping et Scanasyst
  • Proporiete mécanique : mode QNM
  • Propriétés électrique : conductive

-  l'AFM permet:

• Imagerie à l'échelle micrométrique de tous échantillons (métaux, céramiques, verre, polymères, matériaux biologiques, etc...) dans l'air ou en milieu liquide
• Cartographie des propriétés mécaniques des matériaux (détermination des modules élastiques de surface, etc...)
• Cartographie des propriétés électriques des matériaux conducteurs (visualisation des phases isolantes et conductrices)

 

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